AEC振動、沖擊測試的目的
AEC振動和沖擊測試的主要目的是評估汽車電子產(chǎn)品在振動和沖擊環(huán)境下的可靠性和耐久性。這些測試旨在模擬汽車使用過程中可能遇到的振動和沖擊條件，以確保產(chǎn)品在實際應(yīng)用中能夠正常工作并具備足夠的性能和可靠性。
具體來說，振動測試的目的包括：
● 評估產(chǎn)品的結(jié)構(gòu)強度
振動測試可以測試產(chǎn)品的結(jié)構(gòu)在振動環(huán)境下的強度和穩(wěn)定性，以確保產(chǎn)品能夠承受汽車行駛過程中的振動和震動。
● 評估產(chǎn)品的連接可靠性
振動測試可以評估產(chǎn)品內(nèi)部連接和焊接的可靠性，以確保產(chǎn)品在振動環(huán)境下不會出現(xiàn)松動、斷裂或接觸不良等問題。
● 評估產(chǎn)品的性能穩(wěn)定性
振動測試可以評估產(chǎn)品在振動環(huán)境下的性能穩(wěn)定性，例如傳感器的準(zhǔn)確性、電子元件的工作可靠性等。
沖擊測試的目的包括：
● 評估產(chǎn)品的耐沖擊能力
沖擊測試可以評估產(chǎn)品在碰撞和顛簸等沖擊情況下的耐久性和結(jié)構(gòu)完整性，以確保產(chǎn)品能夠在車輛行駛過程中保持正常工作。
● 評估產(chǎn)品的抗震動性
沖擊測試可以評估產(chǎn)品在振動環(huán)境下的抗震動能力，以確保產(chǎn)品在振動環(huán)境中不會出現(xiàn)故障或性能下降。
通過進行振動和沖擊測試，汽車電子產(chǎn)品的制造商可以評估產(chǎn)品在實際使用條件下的可靠性，從而提高產(chǎn)品的質(zhì)量和性能，并滿足汽車行業(yè)對產(chǎn)品可靠性和安全性的要求。
振動、沖擊測試的夾具設(shè)計及其要求
振動和沖擊測試的夾具設(shè)計是確保測試過程的準(zhǔn)確性和可重復(fù)性的關(guān)鍵因素。夾具設(shè)計應(yīng)考慮以下要求：
● 適應(yīng)性
夾具設(shè)計應(yīng)適應(yīng)被測試產(chǎn)品的尺寸、形狀和重量。夾具應(yīng)能夠牢固地固定產(chǎn)品，確保產(chǎn)品在測試過程中不會移動或松動。
● 剛性和穩(wěn)定性
夾具應(yīng)具備足夠的剛性和穩(wěn)定性，以抵抗振動和沖擊測試中產(chǎn)生的力和振動。夾具的結(jié)構(gòu)應(yīng)設(shè)計合理，以確保在測試過程中不會發(fā)生變形或破損。
● 傳遞振動和沖擊
夾具應(yīng)能夠有效地傳遞振動和沖擊力到被測試產(chǎn)品上，以模擬實際使用條件下的振動和沖擊環(huán)境。夾具的設(shè)計應(yīng)考慮到產(chǎn)品的固定點和接觸面，以確保振動和沖擊力能夠均勻地傳遞到產(chǎn)品上。
● 防止干擾
夾具設(shè)計應(yīng)考慮到減少外部因素對測試結(jié)果的干擾。例如，夾具應(yīng)具備良好的隔振性能，以減少來自外部振動源的影響。
● 安全性
夾具設(shè)計應(yīng)考慮到操作人員的安全。夾具應(yīng)具備良好的防護措施，以防止操作人員受到振動和沖擊測試過程中的傷害。
● 可調(diào)性和可重復(fù)性
夾具設(shè)計應(yīng)具備可調(diào)性，以適應(yīng)不同類型和尺寸的產(chǎn)品。此外，夾具應(yīng)具備良好的可重復(fù)性，以確保在不同時間和不同測試條件下的一致性測試結(jié)果。
總之，振動和沖擊測試的夾具設(shè)計應(yīng)考慮到適應(yīng)性、剛性和穩(wěn)定性、傳遞振動和沖擊、防止干擾、安全性以及可調(diào)性和可重復(fù)性等要求，以確保測試過程的準(zhǔn)確性和可靠性。
AEC系列振動測試標(biāo)準(zhǔn)及測試條件
| 測試標(biāo)準(zhǔn) | 測試對象 | 樣本量 | 接受標(biāo)準(zhǔn) | 測試標(biāo)準(zhǔn) | 測試條件 |
| AEC Q100 | 集成電路 | 15 | 0 | JEDEC JESD22-B103 | 20Hz~2000Hz(對數(shù)掃頻)＞4min，每軸向4次；峰值加速度50g；測試前后的性能檢查在常溫下。 |
| AEC Q101 | 離散半導(dǎo)體 | 30 | 0 | JEDEC JESD22-B103 | 20Hz~2000Hz(對數(shù)掃頻)＞4min，每軸向4次；峰峰值位移0.06inch，峰值加速度50g；測試前后的性能檢查在常溫下。 |
| AEC Q102 | 離散光電半導(dǎo)體器件 | 3批次中各取10個 | 0 | JEDEC JESD22-B103 Condition 1 |
20Hz~2000Hz(對數(shù)掃頻)＞4min，每軸向4次；峰峰值位移0.06inch，峰值加速度20g；測試前后的性能檢查在常溫下。 |
| AEC Q103-002 | 微機電系統(tǒng)（MEMS）壓力傳感器器件 | 3批次中各取39個 | 0 | JEDEC JESD22-B103 | M1級： · 測試條件：依照AEC-Q100（50g，20Hz~2000Hz），應(yīng)力應(yīng)施加在正向和負向的三個相互垂直軸上 M2級： · 測試條件：依照AEC-Q100（50g，10Hz~2000Hz，1小時），應(yīng)力應(yīng)施加在正向和負向的三個相互垂直軸上 |
| AEC Q103-003 | 微機電系統(tǒng)（MEMS）麥克風(fēng)器件 | 3批次中各取12個 | 0 | JEDEC JESD22-B103 | 20Hz~2000Hz(對數(shù)掃頻)＞12min，每軸向4次；峰峰值位移0.06inch，峰值加速度20g；測試前后的性能檢查在常溫下。 |
| AEC Q104 | 多芯片模塊 | 15 | 0 | JEDEC JESD22-B103 | 20Hz~2000Hz(對數(shù)掃頻)＞4min，每軸向4次；峰值加速度50g；測試前后的性能檢查在常溫下。 |
| AEC Q200 | 被動器件 | 30 | 0 | MIL-STD-202 Method 204 |
10Hz~2000Hz(對數(shù)掃頻)＞12min，每軸向4次；峰峰值位移0.06inch，峰值加速度5g；測試前后的性能檢查在常 |
AEC系列沖擊測試標(biāo)準(zhǔn)及測試條件
| 測試標(biāo)準(zhǔn) | 測試對象 | 樣本量 | 接受標(biāo)準(zhǔn) | 測試標(biāo)準(zhǔn) | 測試條件 |
| AEC Q100 | 集成電路 | 15 | 0 | JEDEC JESD22-B104 |
僅Y1平面，5次沖擊，脈沖持續(xù)時間0.5ms，峰值加速度1500g；MS測試前后的性能檢查在常溫下。 |
| AEC Q101 | 離散半導(dǎo)體 | 30 | 0 | JEDEC JESD22-B104 |
1500g，0.5ms，5次/方向，±XYZ共30次；測試前后的性能檢查在常溫下。 |
| AEC Q102 | 離散光電半導(dǎo)體器件 | 3批次中各取10個 | 0 | JEDEC JESD22-B110 |
1500g，0.5ms，5次/方向，±XYZ共30次；測試前后的性能檢查在常溫下。 |
| AEC Q103-002 | 微機電系統(tǒng)（MEMS）壓力傳感器器件 | 3批次中各取39個 | 0 | JEDEC JESD22-B110 | M1級： · 測試條件：依照AEC-Q100（50g，20Hz~2000Hz），應(yīng)力應(yīng)施加在正向和負向的三個相互垂直軸上 M2級： · 測試條件：依照AEC-Q100（50g，10Hz~2000Hz，1小時），應(yīng)力應(yīng)施加在正向和負向的三個相互垂直軸上 |
| AEC Q103-003 | 微機電系統(tǒng)（MEMS）麥克風(fēng)器件 | 3批次中各取12個 | 0 | JEDEC JESD22-B104 |
3個脈沖，0.5毫秒持續(xù)時間，在X、Y和Z平面的10000g峰值加速度。室溫下進行震動前后測試。 |
| AEC Q104 | 多芯片模塊 | 15 | 0 | JEDEC JESD22-B110 |
僅Y1平面，5次沖擊，脈沖持續(xù)時間0.5ms，峰值加速度1500g；MS測試前后的性能檢查在常溫下。 |
| AEC Q200 | 被動器件 | 30 | 0 | MIL-STD-202 Method 213 |
方法213圖表1，表面貼裝元件：條件C；引腳器件：條件C。 半正弦、峰值加速度100g's，6ms，速度變化12.3ft/sec |
為了滿足AEC車載電子元器件50g大量級振動條件要求，CTI華測檢測實驗室配備感應(yīng)式振動臺，是傳統(tǒng)電磁式振動臺2.5倍加速度能力。
感應(yīng)式振動臺的優(yōu)勢
- 振動波形好、高加速、高量值、抗直流干擾能力。
- 結(jié)構(gòu)簡單，維修方便、重量輕、強度較高。
- 連接剛度較大，工作頻率范圍更寬。
- 增加振動臺無故障時間，提高了可靠性。
| 正弦推力 | 5200kgf |
| 隨機推力 | 5200kgf |
| 沖擊推力 | 10400kgf |
| 頻率范圍 | 2～2800Hz |
| 持續(xù)位移 | 76mm |
| 沖擊位移 | 76mm |
| 最大速度 | 2.5m/s |
| 最大加速度 | 1200m/s2 |
機械沖擊設(shè)備是一種用于模擬產(chǎn)品在碰撞、顛簸等沖擊環(huán)境下的測試設(shè)備。它通過施加沖擊力或沖擊能量于產(chǎn)品上，評估產(chǎn)品的耐沖擊能力和抗震動性能。CTI華測檢測實驗室配備行業(yè)領(lǐng)先大量級沖擊品牌設(shè)備。
型號：ST-6080
臺面尺寸：600×800 mm
最大載重：90 kg(二次沖擊最大載重2 kg)
最短時域：非標(biāo)準(zhǔn)波≧0.1 mS(含二次沖擊臺)
最長時域：≧30 mS
最大加速度：≧10,000 gn(含二次沖擊臺)
最大速度變化率：7.4 m/Sec
二次沖擊臺尺寸：150×150 mm
CTI華測檢測可為客戶提供AEC-Q100、AEC-Q101、AEC-Q102、AEC-Q200、AEC-Q104等多個系列的測試認證服務(wù)；
CTI可提供材料分析、失效分析等多種測試分析服務(wù)，為汽車電子技術(shù)的合規(guī)賦能，為半導(dǎo)體及元器件企業(yè)的產(chǎn)品質(zhì)量保駕護航。
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