無損檢測(cè)技術(shù)是在不破壞或損傷原材料和工件受檢對(duì)象的前提下，測(cè)定和評(píng)價(jià)物質(zhì)內(nèi)部或外部的物理和力學(xué)性能，并包括各類缺陷和其它技術(shù)參數(shù)的綜合性技術(shù)，對(duì)于控制和改進(jìn)生產(chǎn)過程和產(chǎn)品質(zhì)量，保證材料、零件和產(chǎn)品的可靠性及提高和生產(chǎn)率起著關(guān)鍵的作用，是保證設(shè)備安全運(yùn)行，防止發(fā)生安全事故的必要措施，同時(shí)也是發(fā)展現(xiàn)代工業(yè)必不可少的重要技術(shù)措施之一。

相控陣超聲檢測(cè)PAUT技術(shù)是利用陣列探頭，在發(fā)射或接收時(shí)施加預(yù)先設(shè)計(jì)的聚焦法則，通過波束形成實(shí)現(xiàn)檢測(cè)聲束的移動(dòng)、偏轉(zhuǎn)和聚焦等功能的超聲成像檢測(cè)技術(shù)。

   PAUT的基本原理

• 相控陣 + 超聲檢測(cè)
• 英文： PA+UT = PAUT
• 手工相控陣，編碼相控陣
• 手動(dòng)掃查，自動(dòng)掃查

   相控陣超聲檢測(cè)檢測(cè)優(yōu)點(diǎn)

1、檢測(cè)復(fù)雜型面

2、檢測(cè)速度快

3、檢測(cè)靈活性更強(qiáng)

4、探頭尺寸更小

5、檢測(cè)難以接近的部位

6、由于以下因素可以節(jié)約系統(tǒng)成本：探頭更少、機(jī)械部分少

   相控陣技術(shù)優(yōu)勢(shì)

1. 實(shí)時(shí)彩色成像，包括A/B/C/D和S-掃描，便于缺陷判讀；　
2. 相控陣技術(shù)可以實(shí)現(xiàn)線性掃查、扇形掃查和動(dòng)態(tài)深度聚焦，從而同時(shí)具備寬波束和多焦點(diǎn)的特性，因此檢測(cè)速度可以更快；
3. 控陣具有更高的檢測(cè)靈活性，可以實(shí)現(xiàn)其它常規(guī)檢測(cè)技術(shù)所不能實(shí)現(xiàn)的功能，如對(duì)復(fù)雜工件檢測(cè)；
4. 容易檢出各種走向、不同位置的缺陷，缺陷檢出率高，定量、定位精度高；
5. 掃查裝置簡(jiǎn)單，便于操作和維護(hù)；
6. 檢測(cè)結(jié)果受人為因素影響小，數(shù)據(jù)便于儲(chǔ)存、管理和調(diào)用;

   相控陣超聲檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)

相控陣超聲檢測(cè)的標(biāo)準(zhǔn)有很多，一般情況下委托方?jīng)]有特別要求時(shí)，可采用國(guó)標(biāo)GB/T32563-2016  ；

注意：采用標(biāo)準(zhǔn)均要求現(xiàn)行版本。