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動態(tài)雷射掃描分析（DLAS）

DALS芯片服務(wù)項目廣泛應(yīng)用于新芯片設(shè)計的偵錯、除錯和驗證改版等領(lǐng)域，特別是在IC設(shè)計復(fù)雜度增加和制程演進的情況下，DALS技術(shù)能夠發(fā)揮更大的作用。通過DALS技術(shù)，客戶可以快速地解決芯片設(shè)計中的問題，提高產(chǎn)品的可靠性和穩(wěn)定性。作為業(yè)界領(lǐng)先的第三方芯片半導(dǎo)體實驗室，CTI華測檢測擁有先進的DALS設(shè)備和專業(yè)的技術(shù)團隊，能夠為客戶提供高質(zhì)量的服務(wù)。

咨詢報價

? 服務(wù)背景

　　隨著集成電路（IC）設(shè)計復(fù)雜度的提升和制程的演進，針對功能性失效、臨界區(qū)域失效等需要動態(tài)信號驅(qū)動后才產(chǎn)生的失效現(xiàn)象，DALS技術(shù)能夠提供有效的解決方案。通過外部測試平臺或其他應(yīng)用板提供信號驅(qū)使IC進入臨界失效狀態(tài)，搭配失效分析設(shè)備，DALS能夠精確地偵測出造成臨界失效的位置。

? 動態(tài)雷射掃描分析（DLAS）

　　作為業(yè)界領(lǐng)先的第三方芯片半導(dǎo)體實驗室，CTI華測檢測擁有先進的DALS設(shè)備和專業(yè)的技術(shù)團隊，能夠為客戶提供高質(zhì)量的服務(wù)。

? 服務(wù)優(yōu)勢

　　1.高效性

　　DALS技術(shù)能夠快速地定位到失效區(qū)域，大大縮短了失效分析的時間，提高了工作效率。

　　2.準確性

　　通過動態(tài)信號驅(qū)動和失效分析設(shè)備的配合使用，DALS能夠準確地找出失效的真正原因，避免了誤判和漏判。

　　3.先進性

　　作為業(yè)界領(lǐng)先的第三方實驗室，CTI華測檢測擁有先進的DALS設(shè)備和專業(yè)的技術(shù)團隊，能夠為客戶提供高質(zhì)量的服務(wù)。

? 服務(wù)流程