電光探測(cè)/電光頻率成像（Electro Optical Probing/Electro Optical Frequency Mapping or Laser Voltage Image+Probe，簡(jiǎn)稱EOP/EOPM or LVX）。是一項(xiàng)結(jié)合先進(jìn)光學(xué)技術(shù)和電子工程技術(shù)的專業(yè)服務(wù)。它利用電光效應(yīng)（EO）原理，通過激光束與芯片表面或內(nèi)部結(jié)構(gòu)的相互作用，實(shí)現(xiàn)對(duì)芯片性能、材料特性以及失效機(jī)理的精確分析和評(píng)估。EOP/EOPM技術(shù)為芯片設(shè)計(jì)、制造、測(cè)試及失效分析等領(lǐng)域提供了強(qiáng)大的技術(shù)支持。

　　CTI華測(cè)檢測(cè)憑借先進(jìn)的設(shè)備和專業(yè)的技術(shù)團(tuán)隊(duì)，為客戶提供高質(zhì)量、高效率的EOP/EOPM服務(wù)，為芯片設(shè)計(jì)、制造、測(cè)試及失效分析等領(lǐng)域提供了強(qiáng)大的技術(shù)支持，助力客戶在激烈的市場(chǎng)競(jìng)爭(zhēng)中取得優(yōu)勢(shì)。

?      服務(wù)優(yōu)勢(shì)

　　1.高精度測(cè)量

　　EOP/EOPM技術(shù)具有高精度、高分辨率的特點(diǎn)，能夠捕捉到微小的信號(hào)變化和材料特性差異。

　　2.非接觸式檢測(cè)

　　無需接觸芯片表面，避免了對(duì)樣品的損傷和污染，特別適用于高精密度和高可靠性要求的芯片產(chǎn)品。

　　3.快速響應(yīng)

　　EOP/EOPM技術(shù)能夠迅速響應(yīng)信號(hào)變化，實(shí)時(shí)反映芯片的工作狀態(tài)，提高檢測(cè)效率。

　　4.強(qiáng)大分析能力

　　結(jié)合先進(jìn)的圖像處理和數(shù)據(jù)分析技術(shù)，EOP/EOPM技術(shù)能夠深入挖掘芯片內(nèi)部的信號(hào)傳輸規(guī)律和失效機(jī)理，為客戶提供全面的分析報(bào)告和解決方案。

?      服務(wù)流程